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粒径统计分析显微镜03C-UV-G

产品优势:
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粒径统计分析显微镜03C-UV-G

 

产品概述

粒径统计分析显微镜03C-UV-G是一套专门用于大的固体粉末、建筑沙石、颜料涂层及各类反光材料进行粒径统计的显微分析系统,颗粒的检测范围:20~10000μm。该系统能自动提取每个颗粒的形状,并计算颗粒的尺寸,面积,圆度等参数,自动统计出颗粒的平均直径,及各个区间粒径所占的比例。系统配置了科研级三目透射显微镜XS-18C,粒度分析软件UV-G,专业高清晰CCD成像系统,电脑,打印机。精选专业高清晰模拟摄像头,使得图像边缘清晰,颗粒的提取更准确.粒度分析软件能自动对颗粒进行统计并给出相应的粒径报表,以供打印输出。该系统应用范围广泛,凡是与颗粒图像形态学有关的各种检测与分析:例如固体粉末、建筑沙石、颜料涂层,漆表面缺陷分析,农业种子形态分析,各种微小异性几何尺寸测量,化学工业中各种反应物粒子的形态分析等,都可以利用UV-G来完成。 

 

粒径统计分析显微镜03C-UV-G:

 

一、           系统配置:

 

序号

配置名称

主要规格参数

01

三目体视显微镜XT-03C

7-55X

02

日本松下专业高清摄像头

彩色最低照度0.0003Lux(SENS UP模式) 

03

专业高精度图像采集卡

实时采集PAL制、NTSC制标准黑白/彩色信号,10 bit A/D采样

04

摄像接口MCL

1X或者0.5X

05

粒度分析软件UV-G

包含所有基本测量功能,可以自动提取颗粒,自动统计颗粒的粒径,输出EXCEL报告。

06

联想台式机

XPwin7系统,内存1G以上,独立显卡512M以上,PCI插槽

07

佳能打印机

彩色激光打印机


二、显微镜技术参数:

 

序号

名称

技术参数

01

目镜

高眼点大视野目镜10X(Φ22mm)

02

物镜

0.7X-5.5X 物镜变倍比 17.9

03

总放大倍数

7X-55X(选购0.5X2X大物镜,20X目镜可达3.5X-220X

04

观察头

三目,视度调节±5屈光度 45°倾斜 360°旋转

05

瞳距

54-75mm

06

视场范围

4.0-31.4mm

07

工作距离

最大工作距离105mm

08

调节范围

升降调节范围45mm 立杆高240mm

09

载物台

配有压片和φ95mm玻璃台板和黑白工作板

10

光源

上下LED灯照明,独立开关,亮度可调,发热量低,寿命长

11

仪器重量

净重:5.0kg 毛重:6.5kg

12

仪器尺寸

仪器尺寸24X34X42cm) 包装尺寸 52X30X42cm

一、           显微镜选购件

 

序号

名称

技术参数

01

目镜

大视野 WF15X(Φ15mm)20XΦ12mm

02

大物镜

0.5X2X

03

测微目镜

10XΦ22mm

04

物镜测微尺

0.01mm

05

光源

环形荧光光源、环形LED光源(四区可调)、双支冷光源

06

移动工作台

移动范围X-Y70X50mm

 

二、摄像系统选购:

 

序号

名称

参数及功能

01

CCD数字摄像头

140万、200万、500万(具有单张、定时采集图像、录像、显示比例尺、测量、图像拼接,融合等功能,并可以连接多媒体、打印、EMAIL等多种输出方式。)

02

CMOS数字摄像头  

500万、800万、900万、1000万、1400万(具有单张、定时采集图像、录像、显示比例尺、测量、图像拼接,融合等功能,并可以连接多媒体、打印、EMAIL等多种输出方式。)

 

 

三、装箱清单

序号

名称

主要技术参数

数量

单位

01

三目体视显微镜XT-03C

7-55X,上下光源

1

02

粒度分析软件UV-G

包含所有基本测量功能,可以自动提取颗粒,自动统计颗粒的粒径,输出EXCEL报告

1

03

日本松下专业高清摄像头

彩色最低照度0.0003Lux(SENS UP模式)

1

04

高精度图像采集卡

实时采集PAL制、NTSC制标准黑白/彩色信号,10 bit A/D采样

1

05

摄像接口MCL

1X或者0.5X

1

06

联想台式机

内存2G1G独显,500G以上硬盘,带PCI插槽

1

07

佳能打印机

彩色激光

1

08

物镜测微尺

0.01mm

1

08

防尘罩

 

1

09

随机附件

装箱单,说明书,合格证,保修卡

1

 

 

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